报告主题
面向闪烁体辐射响应特性的多光电器件电信号表征方法研究，报告日期为 2026 年 8 月 11 日。
测试内容
搭建多种光电器件的测试平台，开展光产额相对测量、发光衰减时间、能谱与能量分辨率测试，并讨论器件响应、前端读出与温度影响。
合作方向
围绕新型闪烁体与光电器件，可交流样品适配、光学耦合、前端噪声与数据分析等具体测试问题。
核探测
多光电器件表征闪烁体辐射响应
PMT、SiPM 与 APD：从器件匹配到测量结果。
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