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邓永康在 NED2026 作报告,交流闪烁体多光电器件表征研究

从 PMT、SiPM 到 APD,围绕闪烁体辐射响应、器件匹配与信号读出,分享多光电器件电信号表征方法。

邓永康在 NED2026 作学术报告
邓永康在 NED2026 作学术报告

相聚登封,交流核探测技术

2026 年 8 月 10—12 日,第二十三届全国核电子学与核探测技术学术年会(NED2026)在河南登封举行。会议由中国核学会核电子学与核探测技术分会主办,中国科学院高能物理研究所和郑州大学承办。

8 月 11 日,核衷科技联合创始人邓永康以成都理工大学研究团队的工作为基础,作题为《面向闪烁体辐射响应特性的多光电器件电信号表征方法研究》的报告。官方日程将该报告列入当日下午的探测器分会场。

围绕同一束闪烁光,理解不同器件的响应

闪烁体将辐射沉积能量转化为光信号,最终读出的电信号还受到光电器件、前端电路及采集条件的共同影响。报告围绕光电倍增管(PMT)、硅光电倍增器(SiPM)与雪崩光电二极管(APD),介绍多器件测试链路及其互补的表征思路。

研究结合相对光产额、发光时间特性、能谱和能量分辨率等测量,讨论器件光谱响应、增益、噪声与温度条件对结果的影响。面对不同波段和不同时间尺度的闪烁信号,需要将材料特性与读出条件一并记录、分析,而不能仅用单一电压幅度替代完整的性能评价。

报告现场:不同光电转换器件的性能特征与测量条件
报告现场:不同光电转换器件的性能特征与测量条件

把材料表征与工程测量连接起来

报告还介绍了脉冲成形与高计数率条件下的信号处理探索,并围绕测试链路集成、快慢分量分析与器件工作点稳定性提出后续研究方向。对于新型闪烁体和光电器件,明确激励、耦合、偏压、前端和采集条件,是开展可比较测量的重要基础。

会议同期的产业展讯同样关注低温、低本底等特殊工况下的光电探测器选型。滨松中国的参展介绍展示了这些应用需求,也为理解核探测系统中的器件适配问题提供了行业背景。

以专业交流推进后续研究

从器件到信号,再到测量系统,核衷科技将继续围绕核探测与读出电子学开展研究和技术交流,欢迎科研团队与产业伙伴就样品适配、前端读出、测试流程与数据分析开展具体讨论。

NED2026 参会交流合影
NED2026 参会交流合影
NED2026 会场交流留影
NED2026 会场交流留影
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